產(chǎn)品展示NEWS CENTER
在發(fā)展中求生存，不斷完善，以良好信譽(yù)和科學(xué)的管理促進(jìn)企業(yè)迅速發(fā)展產(chǎn)品中心
PRODUCT CATEGORY相關(guān)文章
RELATED ARTICLES
賽可（SEC）X-RAY檢測(cè)設(shè)備X-eye NF120 Series廣泛應(yīng)用于要求檢測(cè)Sub-micron單位不良的半導(dǎo)體封裝及Waffer level packaging（WLP)領(lǐng)域里。
更新日期：2025-04-02
型號(hào)：
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
賽可（SEC）X-RAY檢測(cè)設(shè)備SF160F/N Series:用戶可通過(guò)需求選擇Dual CT功能(Oblique CT, Cone-beam CT)實(shí)現(xiàn)3次元（3D）影像中進(jìn)行正確的分析出不良的種類(lèi)，位置及大小。
更新日期：2025-04-02
型號(hào)：X-eye SF160F/N Series
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
賽可（SEC）X-RAY檢測(cè)設(shè)備SF160ER Series ：搭載Micro-focus Open Tube (160kV) 和 Flat Panel Detector ，可獲取高清晰，高倍率圖像，可靈活應(yīng)用在分析及工藝流程檢中的缺陷檢查。
更新日期：2025-04-02
型號(hào)：X-eye SF160ER Series
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
SCROLL
聯(lián)系人：全文哲
手機(jī)：18604331187
座機(jī)：021-52211955
地址：紫秀路100號(hào)5號(hào)樓112室
快速導(dǎo)航
產(chǎn)品系列
產(chǎn)品推薦
Copyright©2025 上海賽可檢測(cè)設(shè)備有限公司版權(quán)所有 All Rights Reserved 備案號(hào)：滬ICP備2021013369號(hào)-2
技術(shù)支持：化工儀器網(wǎng) 管理登錄 sitemap.xml
