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首頁-產(chǎn)品展示--SEM臺式掃描電鏡-SNE-Alpha賽可(SEC)超高分辨率臺式掃描電鏡

賽可(SEC)超高分辨率臺式掃描電鏡

更新時間:2024-08-23

產(chǎn)品型號:SNE-Alpha

簡要描述:賽可(SEC)超高分辨率臺式掃描電鏡:賽可公司總部位于韓國水原市,是專業(yè)從事掃描電子顯微鏡和X-RAY檢測設備研發(fā)、生產(chǎn)的公司。自2006年推出臺式電鏡以來,賽可憑借其優(yōu)秀的生產(chǎn)工藝和持續(xù)的技術創(chuàng)新,在國內(nèi)外擁有眾多的用戶。

  • 企業(yè)實力

    Enterprise Strength
  • 有效保修

    Valid Warranty
  • 質(zhì)量保障

    Quality Assurance

詳細介紹

   賽可(SEC)超高分辨率臺式掃描電鏡簡介:

   2023年SEC推出全新一代超高分辨率臺式掃描電鏡SNE-Alpha,大大提高操作便利性,提高測試效率!

   賽可(SEC)超高分辨率臺式掃描電鏡特點:

   更加人性化的新一代操作軟件,任何人都能輕松操作,無需專業(yè)測試人員。并提供豐富的擴展功能:顆粒物自動分析,3D粗糙度分析,超大視野拼圖軟件。超快的真空抽速,減少等待的煩惱,提高測試效率。小巧而精致的設計,可在狹窄的空間內(nèi)安裝使用。

   1)5nmResolution250,000xMagnification:

   同級別最高性能的StageNavigation功能
    
   優(yōu)于5um的高精密navigation移動,可迅速位移
    
   同級別不二標配全自動5軸樣品臺

   搭載全新的第三代操作軟件
    
   任何人均可簡單操作
    
   強大的自動功能

   超快的真空系統(tǒng)
    
   Vacuum90sec,Venting15sec
    
   同級別最快的真空系統(tǒng)

   豐富的擴展功能
    
   3D粗糙度分析,超大視野拼圖軟件
    
   顆粒物粒物自動分析(Particleanalysis)

   CompactDesign!更強大的性能!
    
   與現(xiàn)有型號相比,Dimension減少了40%
    
   300(W)x465(D)x600(H)

   強化用戶便利功能
    
   自動獲取Navigation圖像
    
   關閉樣品倉的同時開始自動抽真空

   2)HIGH-PERFORMANCEHARDWARE

   最高放大倍率25萬倍,5nmResolution,實現(xiàn)同級別最高放大倍率及超高分辨率,通過全新的高精密電子光學系統(tǒng),獲取高質(zhì)量圖像。

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    3)五軸全自動樣品臺

   優(yōu)于5um的高精密全自動樣品臺,實現(xiàn)迅速位移并精準的找到樣品位置

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  小巧而精致的設計,進一步提高空間使用率

   -與現(xiàn)款相比,Dimension減少40%

   -小巧緊湊,可在狹窄的空間內(nèi)安裝使用

   -300(W)x465(D)x600(H)

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   NEW第三代Nano-eye

   全新的操作軟件,提高用戶體驗

   注重人性化的操作界面,操作更加便捷,在短時間內(nèi)輕松獲取高質(zhì)量圖像

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   強大的自動功能

   *的AutoFocus功能,可快速獲取高質(zhì)量圖像

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   超大視野拼圖功能:

   超大視野給用戶帶來更直觀的觀測體驗,通過超大視野拼圖功能,觀測樣品全貌,得到大范圍的高分辨率圖像

   所需區(qū)域后無需人員操作,軟件開始自動區(qū)域掃描,并將圖像拼成全景圖像,方便觀測并提高效率。

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   3D粗糙度分析

   通過四分割BSE探測器,重構3D立體圖像,簡單快速的分析表面粗糙度

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   EDS(EnergyDispersiveX-raySpectrometer)是一種安裝在SEM(電子顯微鏡)上的分析樣品表面成分的裝置。

   利用掃描電鏡的電子束作用在待分析樣品上,接收不同元素在電子束作用后所產(chǎn)生的特征X射線信號進行定性和定量分析。

   Features:

   硅漂移探測器(SDD)

   30mm2有效面積

   超輕元素窗口,元素探測范圍B(5)~Cf(98),

   能量分辨率MnKα≤129eV

   帕爾貼制冷,無需液氮或其他冷卻劑

   簡便的操作軟件,快速實現(xiàn)對材料的微區(qū)化學成分分析

   主要功能:定性·定量分析,MappingLineScan,Report等

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